http://etchips.hqew.com|https://dfsimg3.hqewimg.com/group1/M00/20/7F/wKhk7WIJzbWAPYwAAAAszO1pUCc250.jpg|http://wpa.qq.com/msgrd?v=3&uin=2881944238&site=qq&menu=yes|ABRACON、TI/德州仪器、ON/安森美、INFINEON/英飞凌、ST/意法、MICROCHIP/微芯|电源IC、声表晶振、分立、接口IC、IC、逻辑IC|存储IC、逻辑IC、运放IC、电源IC、接口IC、保护IC、81632位MCU、车规级全碳化硅、碳化硅MOSFET、分立|壹探力荐以x-ray对比为主的真伪鉴别方式,此方式准确高效适用性广,难点在于寻找能够作为参照的标准件。壹探积累了海量标准件x-ray图片,为客户使用此方式鉴别芯片真伪提供了可靠数据支撑。壹探同时提供鉴别咨询,且可按客户需求补充标准件,协助客户解决鉴别中的疑难问题。大量的数据积累使得壹探还有丰富的翻新物料的鉴别经验,期待与客户交流及分享。
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